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隆安
2025-12-16 09:04:13
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老化房、試驗箱、老化箱/柜 > 生產(chǎn)廠家
隆安老化設(shè)備25生產(chǎn)廠家直銷價格，品質(zhì)售后雙保障，廠家直供價更優(yōu)！ 馬上咨詢
jms試驗箱是高溫老化環(huán)境測試的核心設(shè)備，選型需重點關(guān)注溫度范圍、控制精度、容積匹配性及安全聯(lián)鎖功能。建議優(yōu)先選擇符合IEC 60068、GB/T 2423等標準的設(shè)備，通過技術(shù)協(xié)議明確參數(shù)邊界，驗收時核查溫度均勻性、波動度及過沖量。采購流程需涵蓋需求確認、FAT/SAT測試、計量校準等環(huán)節(jié)，避免因參數(shù)虛標或維護缺失導致測試失效。
| 問題 | 答案 |
|---|---|
| 典型溫度范圍 | -70℃~+300℃（部分型號可達+500℃） |
| 核心選型參數(shù) | 溫度均勻性≤±2℃、波動度≤±0.5℃、升溫速率≥3℃/min |
| 關(guān)鍵標準 | IEC 60068-2-1（高溫試驗）、GB/T 2423.2 |
| 推薦容積 | 根據(jù)試樣尺寸選擇，單件試樣體積≤箱體容積的1/3 |
| 維護周期 | 每3個月清潔風道、每6個月校準傳感器 |
| 參數(shù) | 計算方法 |
|---|---|
| 容積 | 單件試樣體積×數(shù)量×1.5（預留30%空間） |
| 升溫速率 | （目標溫度-室溫）/時間要求（如85℃/30min需≥2.8℃/min） |
| 參數(shù) | 定義 | 典型值 | 失效影響 |
|---|---|---|---|
| 溫度均勻性 | 工作空間內(nèi)各點溫差 | ≤±2℃ | 試樣受熱不均導致測試偏差 |
| 波動度 | 設(shè)定溫度的瞬時偏差 | ≤±0.5℃ | 溫度震蕩加速材料老化 |
| 分辨率 | 溫度顯示最小單位 | 0.1℃ | 影響數(shù)據(jù)記錄精度 |
| 采樣率 | 數(shù)據(jù)采集頻率 | ≥1次/秒 | 漏記溫度突變事件 |
致：XXX廠商
需采購jms試驗箱1臺，要求如下：
1. 溫度范圍：-40℃~+150℃
2. 容積：800L（內(nèi)尺寸≥1000mm×800mm×1000mm）
3. 控制方式：PID微電腦控制，帶RS485通訊接口
4. 安全功能：超溫保護、故障代碼顯示、緊急停機按鈕
5. 符合標準：IEC 60068-2-1、GB/T 2423.2
請于3個工作日內(nèi)提供技術(shù)方案及報價。
| 型號 | 溫度范圍 | 濕度范圍 | 容積 | 控制精度 | 符合標準 | 附加特性 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| JMS-HT800 | -70℃~+300℃ | 10%~98%RH | 800L | ±0.5℃ | IEC 60068 | 遠程監(jiān)控、數(shù)據(jù)追溯 |
| JMS-HT1200 | -40℃~+150℃ | 20%~95%RH | 1200L | ±1℃ | GB/T 2423 | 多段程序控溫 |
| JMS-HT2000 | 室溫~+500℃ | 無 | 2000L | ±2℃ | ASTM D1171 | 高溫排風系統(tǒng) |
| 故障現(xiàn)象 | 可能原因 | 解決措施 |
|---|---|---|
| 升溫緩慢 | 加熱管老化、風道堵塞 | 更換加熱管、清潔風道濾網(wǎng) |
| 溫度超調(diào) | PID參數(shù)失調(diào)、傳感器偏移 | 重新整定PID、校準傳感器 |
| 濕度異常 | 加濕器故障、排水不暢 | 檢修加濕器、清理排水管 |
根據(jù)測試對象的最嚴苛工況選擇。例如，軍工電子元件需滿足GJB 150.3A的高溫貯存要求（-55℃~+125℃），而民用產(chǎn)品通常-40℃~+85℃即可。建議預留20%余量，避免長期滿負荷運行。
使用標準溫度源（如Fluke 9142）在箱體內(nèi)布置9個測溫點（中心及四角），運行穩(wěn)定后記錄1小時數(shù)據(jù)。計算最大溫差（均勻性）和標準偏差（波動度），需符合技術(shù)協(xié)議要求。
jms試驗箱專為環(huán)境模擬設(shè)計，具備溫度均勻性控制、數(shù)據(jù)記錄、安全聯(lián)鎖等功能，符合IEC/GB標準；普通烘箱僅用于干燥，無精度保證和標準符合性。
800L標準型價格約15萬~25萬元，高溫型（+500℃）約30萬~50萬元。價格差異取決于控制精度、材質(zhì)（如不銹鋼內(nèi)膽）、附加功能（如遠程監(jiān)控）。
根據(jù)使用頻率和重要性分級。關(guān)鍵設(shè)備（如軍工產(chǎn)品測試）每6個月校準一次，一般設(shè)備每年一次。校準需依據(jù)JJF 1101《環(huán)境試驗設(shè)備溫度、濕度參數(shù)校準規(guī)范》。
1. 中國計量科學研究院《環(huán)境試驗設(shè)備校準技術(shù)報告》（2025年）
2. IEEE標準協(xié)會《電子設(shè)備高溫試驗方法》（IEEE P1678）
因老化試驗設(shè)備參數(shù)各異，為確保高效匹配需求，請您向我說明測試要求，我們將為您1對1定制技術(shù)方案
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