導(dǎo)讀：

電學(xué)試驗(yàn)箱選型需優(yōu)先匹配高溫老化測(cè)試場(chǎng)景，重點(diǎn)核查溫度均勻性、負(fù)載能力、安全聯(lián)鎖及標(biāo)準(zhǔn)合規(guī)性。推薦優(yōu)先選擇通過IEC 60068-2-78、GB/T 認(rèn)證的廠商，避免因參數(shù)虛標(biāo)或設(shè)計(jì)缺陷導(dǎo)致測(cè)試失效。

目錄

1. 快速答案卡片
2. 核心選型參數(shù)與技術(shù)指導(dǎo)
3. 主流品牌橫評(píng)表
4. 采購(gòu)全流程Checklist
5. 故障與維護(hù)實(shí)操
6. FAQ
7. 外部參考

快速答案卡片：

核心選型參數(shù)與技術(shù)指導(dǎo)

1. 試驗(yàn)?zāi)康呐c典型工況

電學(xué)試驗(yàn)箱用于模擬高溫老化環(huán)境，測(cè)試電子元件（如IC、電容、連接器）在長(zhǎng)期熱應(yīng)力下的失效機(jī)理，包括：

• 熱失效：材料膨脹系數(shù)差異導(dǎo)致焊點(diǎn)開裂
• 氧化失效：高溫加速金屬氧化
• 參數(shù)漂移：半導(dǎo)體器件閾值電壓偏移

典型工況：

• 溫度循環(huán)：25℃→125℃→25℃，每循環(huán)2小時(shí)
• 恒定高溫：150℃持續(xù)1000小時(shí)
• 負(fù)載條件：試樣功率密度≤50W/dm3

2. 關(guān)鍵參數(shù)表

3. 選型決策流程

步驟1：明確需求

• 試樣尺寸（長(zhǎng)×寬×高）
• 溫度范圍（-70℃~+300℃常見）
• 測(cè)試周期（短期/長(zhǎng)期）

步驟2：技術(shù)協(xié)議要點(diǎn)

• 符合標(biāo)準(zhǔn)：IEC 60068-2-78（國(guó)際）、GB/T （國(guó)內(nèi)）
• 精度要求：溫度控制精度±1℃，濕度±3%RH（如需）
• 采樣率：≥1次/秒（數(shù)據(jù)記錄）

步驟3：詢價(jià)模板

主流品牌橫評(píng)表

采購(gòu)全流程Checklist

1. 需求確認(rèn)：明確試樣尺寸、溫度范圍、測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
2. 技術(shù)協(xié)議：約定精度、均勻性、安全聯(lián)鎖條款
3. 報(bào)價(jià)對(duì)比：要求廠商提供同型號(hào)案例及校準(zhǔn)報(bào)告
4. FAT（工廠驗(yàn)收）：
   • 空載運(yùn)行24小時(shí)，記錄溫度曲線
   • 負(fù)載測(cè)試（模擬實(shí)際工況）
5. SAT（現(xiàn)場(chǎng)驗(yàn)收）：
   • 安裝環(huán)境檢查（通風(fēng)、接地）
   • 聯(lián)調(diào)測(cè)試（與數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)對(duì)接）
6. 計(jì)量校準(zhǔn)：每年一次，由第三方機(jī)構(gòu)（如CNAS認(rèn)證實(shí)驗(yàn)室）執(zhí)行
7. 維保合同：明確備件供應(yīng)周期、響應(yīng)時(shí)間

故障與維護(hù)實(shí)操

常見故障及處理

維護(hù)清單

• 每日：檢查排水口是否堵塞
• 每月：清潔風(fēng)道濾網(wǎng)，檢查門封條
• 每年：更換制冷劑（如R23），校準(zhǔn)溫度傳感器

FAQ

Q1：如何判斷廠商是否靠譜？
A：要求提供近三年同類設(shè)備銷售案例、CNAS校準(zhǔn)證書及IEC認(rèn)證文件，避免選擇僅提供“出廠報(bào)告”的廠商。

Q2：低價(jià)設(shè)備可能存在哪些問題？
A：常見問題包括溫度均勻性虛標(biāo)（實(shí)際±5℃以上）、安全聯(lián)鎖缺失（超溫?zé)o報(bào)警）、材料以次充好（內(nèi)膽用鍍鋅板替代不銹鋼）。

Q3：是否需要購(gòu)買帶濕度功能的試驗(yàn)箱？
A：若測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)明確要求濕度（如85%RH/85℃），則需購(gòu)買；否則可優(yōu)先選擇純高溫型，降低成本。

Q4：進(jìn)口品牌與國(guó)產(chǎn)品牌如何選擇？
A：進(jìn)口品牌（如愛斯佩克）在長(zhǎng)期穩(wěn)定性上占優(yōu)，但維保成本高；國(guó)產(chǎn)品牌（如隆安）性價(jià)比高，且響應(yīng)速度快。

Q5：試驗(yàn)箱容積如何確定？
A：按試樣最大尺寸預(yù)留20%空間，例如試樣為400×300×200mm，則選擇容積≥ 3的設(shè)備。

外部參考

• 中國(guó)電器科學(xué)研究院：環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備校準(zhǔn)規(guī)范
• CNAS認(rèn)證實(shí)驗(yàn)室目錄：查詢具備校準(zhǔn)資質(zhì)的機(jī)構(gòu)