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隆安
2025-11-08 09:17:13
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老化房、試驗(yàn)箱、老化箱/柜 > 生產(chǎn)廠家
隆安老化設(shè)備25生產(chǎn)廠家直銷(xiāo)價(jià)格，品質(zhì)售后雙保障，廠家直供價(jià)更優(yōu)！ 馬上咨詢(xún)
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| 問(wèn)題 | 答案 |
|---|---|
| 010bsj溫度范圍 | -70℃~+150℃（標(biāo)準(zhǔn)型），可選-100℃~+300℃（定制型） |
| 控制精度要求 | 溫度± ℃，濕度±2%RH（符合IEC 60068-2-1標(biāo)準(zhǔn)） |
| 典型負(fù)載容量 | 50kg（標(biāo)準(zhǔn)型），最大支持200kg（需定制） |
| 價(jià)格區(qū)間 | 8萬(wàn)~50萬(wàn)元（依配置差異） |
| 核心標(biāo)準(zhǔn) | IEC 60068-2-1、GB/T 、MIL-STD-810G |
試驗(yàn)?zāi)康?/strong>：模擬產(chǎn)品在極端溫度交變環(huán)境下的性能衰減，驗(yàn)證材料、電子元件、電池等在高溫老化（如85℃/168h）或低溫沖擊（如-40℃/2h）中的可靠性。
行業(yè)場(chǎng)景：
失效機(jī)理：高溫導(dǎo)致材料氧化、焊點(diǎn)熔融；低溫引發(fā)脆性斷裂或冷凝短路；交變應(yīng)力加速熱疲勞裂紋擴(kuò)展。
| 參數(shù) | 說(shuō)明 | 典型值 |
|---|---|---|
| 溫度范圍 | 最低溫至最高溫的覆蓋區(qū)間 | -70℃~+150℃ |
| 溫度波動(dòng) | 箱內(nèi)任意點(diǎn)溫度與設(shè)定值的偏差 | ± ℃ |
| 升溫速率 | 從常溫升至最高溫的時(shí)間（空載） | 3℃/min~5℃/min |
| 負(fù)載能力 | 箱內(nèi)可放置的試樣總質(zhì)量 | 50kg~200kg |
| 安全聯(lián)鎖 | 超溫/斷電/門(mén)開(kāi)自動(dòng)停機(jī)功能 | 必須配置 |
| 廠商/型號(hào) | 溫度范圍 | 濕度范圍 | 容積選項(xiàng) | 控制精度 | 符合標(biāo)準(zhǔn) | 附加特性 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 隆安010bsj-A型 | -70℃~+150℃ | 10%~98%RH | 3/1m3 | ± ℃ | IEC 60068-2-1 | 遠(yuǎn)程監(jiān)控、數(shù)據(jù)追溯 |
| 競(jìng)品X-2000 | -60℃~+130℃ | 20%~80%RH | 3 | ±1℃ | GB/T | 基礎(chǔ)型，無(wú)安全聯(lián)鎖 |
| 隆安010bsj-B型 | -100℃~+300℃ | 5%~95%RH | 2m3 | ± ℃ | MIL-STD-810G | 爆炸防護(hù)、快速降溫 |
| 故障現(xiàn)象 | 可能原因 | 解決方案 |
|---|---|---|
| 升溫緩慢 | 加熱管老化、風(fēng)道堵塞 | 更換加熱管，清理風(fēng)道灰塵 |
| 溫度超調(diào) | PID參數(shù)失調(diào)、傳感器偏差 | 重新調(diào)試PID，校準(zhǔn)溫度傳感器 |
| 濕度顯示異常 | 濕球紗布干燥、加濕器故障 | 更換濕球紗布，檢修加濕器 |
| 安全聯(lián)鎖觸發(fā) | 門(mén)未關(guān)緊、過(guò)載保護(hù) | 檢查門(mén)封條，減少負(fù)載至額定值80% |
維護(hù)周期：
Q1：010bsj試驗(yàn)箱能否用于電池包測(cè)試？
A：可測(cè)試，但需確認(rèn)箱體容積是否滿(mǎn)足電池包尺寸，并配置防爆裝置（如隆安010bsj-B型）。
Q2：如何驗(yàn)證設(shè)備控制精度？
A：使用標(biāo)準(zhǔn)溫度計(jì)（如Fluke 5628）在箱內(nèi)多點(diǎn)測(cè)量，對(duì)比設(shè)備顯示值，誤差應(yīng)≤± ℃。
Q3：設(shè)備價(jià)格差異大的原因？
A：主要取決于溫度范圍（超低溫需液氮制冷）、控制精度（伺服控制成本高于PID）及安全標(biāo)準(zhǔn)（軍工級(jí)＞工業(yè)級(jí)）。
Q4：交變?cè)囼?yàn)的典型周期設(shè)置？
A：電子元件常用“高溫85℃/4h→低溫-40℃/4h→常溫恢復(fù)2h”循環(huán)，共10次。
Q5：廠商資質(zhì)如何核查？
A：要求提供CNAS實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可證書(shū)、設(shè)備型式試驗(yàn)報(bào)告（如中國(guó)電器科學(xué)研究院2025年檢測(cè)報(bào)告）。
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